XRF(THICK800A)電鍍鍍層測厚儀

X射線熒光測厚儀性能優勢

新款Thick8000x射線熒光測厚儀秉承了上一代Thick800A的優點，在此基礎上設計了三維移動平臺，*樣品觀測系統和圖像識別功能，滿足了槽狀樣品的測試和不同規格樣品的測試，同時加上大面積的高分辨率的探測器，大大提高了準確度，為客戶提供更的測試，從而降低產品的成本，提高產品的競爭力。

X射線熒光測厚儀技術參數

可以分析從硫到鈾之間的元素，同時可以測試24種元素之多，含量范圍一般從2個PPM到百分之99.9；鍍層厚度一般在50μm以內，不同材質略有差異，*SDD探測器，高清的工業攝像頭，儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

部分產品

X熒光鍍層測厚儀品牌，x-ray鍍層測厚儀，x熒光鍍層測厚儀價格，鍍銀層無損測厚儀，x熒光鍍層測厚儀，金屬鍍層測厚儀，X熒光電鍍層測厚儀，鍍層膜厚測試儀，銅上鍍鎳金測厚儀，X熒光金屬膜厚測厚儀，x熒光金屬測厚儀，無損金屬鍍層測厚儀,鍍金膜厚儀,PCB表面鍍層測厚儀,金屬鍍層分析儀，鍍銀厚度測試儀，膜厚測試儀SANX，金屬鍍層膜厚儀，X射線熒光多鍍層厚度測量儀，銅鍍銀X射線無損測厚儀，鍍層分析儀

應用領域

x射線熒光測厚儀主要應該用在電子電器（線路板/PCB）、五金工具、電鍍加工、制冷設備、半導體、五金配件、端子連接器、腔體等企業中。

 鍍層產品圖